الأجزاء الالكترونية : SNJ54BCT8373AFK

المصنع : Texas Instruments

التعبئة :

الدبابيس :

الوصف : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

درجة الحرارة : مين °C | ماكس °C

Datasheet : SNJ54BCT8373AFK PDF

• SNJ54BCT8373AFK
• SNJ54BCT8373AJT
• SNJ54BCT8374AFK
• SNJ54BCT8374AJT